Παραπομπή APA

Beenker, F., Bennets, R., & Thijssen, A. P. (1995). Testability concepts for digital ICs: The Makro Test Approach. Dordrecht: Kluwer.

Παραπομπή Chicago Style

Beenker, F.P.M., R.G Bennets, and A. P. Thijssen. Testability Concepts for Digital ICs: The Makro Test Approach. Dordrecht: Kluwer, 1995.

Παραπομπή MLA

Beenker, F.P.M., R.G Bennets, and A. P. Thijssen. Testability Concepts for Digital ICs: The Makro Test Approach. Dordrecht: Kluwer, 1995.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.