Testability concepts for digital ICs : The Makro Test Approach - Beenker, F.P.M.; Bennets, R.G.; Thijssen, A. P. (Dordrecht : Kluwer, 1995)
Περιλαμβάνει βιβλιογραφία και ευρετήριο
Keywords: Digital integrated circuits -- Testing; Automatic test equipment