Παραπομπή APA

Sachdev, M. (1998). Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits. Boston: Kluwer Academic.

Παραπομπή Chicago Style

Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Boston: Kluwer Academic, 1998.

Παραπομπή MLA

Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Boston: Kluwer Academic, 1998.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.