System-on-chip test architectures : nanometer design for testability - Wang, Laung-Terng.; Stroud, Charles E.; Touba, Nur A. (Morgan Kaufmann Publishers, 2008)
Διαθέσιμο και σε ηλεκτρονικό βιβλίο, τρόπος πρόσβασης μέσω διαδικτύου.