Μετάβαση στο περιεχόμενο
Ωκεανός
Υπηρεσία Ενοποιημένης Αναζήτησης
του Πανεπιστημίου Πειραιώς
Σύνθετη
  • 0 τεκμήρια
  • Γλώσσα
    • English
    • Ελληνικά
Σύνθετη
  • Αναζήτηση: "Linear integrated circuits Testing."
Προτεινόμενα θέματα σχετικά με την αναζήτησή σας.
Linear integrated circuits 2 Testing 2 Defects 1
Metal oxide semiconductors, Complementary 1
Εμφανίζονται 1 - 2 από 2 για την αναζήτηση: '"Linear integrated circuits Testing."', χρόνος αναζήτησης: 0,11δλ
Εξώφυλλο
Fault diagnosis of analog integrated circuits /
από Kabisatpathy, Prithviraj.
Στοιχεία έκδοσης 2005
Θέματα: '; “...Linear integrated circuits Testing...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits /
από Sachdev, Manoj.
Στοιχεία έκδοσης 1998
Θέματα: '; “...Linear integrated circuits Testing...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS — Αποστολή αναζήτησης με email — Αποθήκευση αναζήτησης

Περιορισμός αναζήτησης

Συλλογή
2 Κατάλογος Βιβλιοθήκης
Μορφή
2 Book
Συγγραφέας
1 Kabisatpathy, Prithviraj 1 Sachdev, Manoj
Ταξινομικός #
2 600 - Technology
Γλώσσα
2 English
Έτος έκδοσης

Επιλογές αναζήτησης

  • Ιστορικό αναζητήσεων
  • Σύνθετη αναζήτηση

Βρείτε περισσότερα

  • Περιήγηση στον κατάλογο
  • Περιήγηση αλφαβητικά

Χρειάζεστε βοήθεια;

  • Συμβουλές αναζήτησης
Library of UniPi
Βιβλιοθήκη Πανεπιστημίου Πειραιώς
Ιστοσελίδα της Βιβλιοθήκης
Επικοινωνήστε μαζί μας
H Υπηρεσία Ενοποιημένης Αναζήτησης δημιουργήθηκε στο πλαίσιο του Υποέργου 4 «Προμήθειες Εξοπλισμού Λογισμικού» της πράξης «Ψηφιακές υπηρεσίες ανοιχτής πρόσβασης της βιβλιοθήκης του Πανεπιστημίου Πειραιώς» με κωδικό ΟΠΣ «304169», του Επιχειρησιακού Προγράμματος "Ψηφιακή Σύγκλιση"

Φορτώνει......