VLSI testing : digital and mixed analoque/digital techniques /
| Κύριος συγγραφέας: | Hurst, Stanley L. |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Στοιχεία έκδοσης: |
London :
The Institution of Electrical Engineers,
1998.
|
| Ταξινομικός αριθμός: |
621.395 19 HU |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| LEADER | 00732nam a22001931a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1/17027 | ||
| 008 | 000328s1998 enk 000 0 eng d | ||
| 020 | |a 0852969015 | ||
| 035 | |l 17544 | ||
| 040 | |a DLC |b GR-PeUP | ||
| 082 | 0 | 0 | |a 621.395 19 HU |
| 100 | 1 | |a Hurst, Stanley L. | |
| 245 | 1 | 0 | |a VLSI testing : |b digital and mixed analoque/digital techniques / |c Stanley L. Hurst. |
| 260 | |a London : |b The Institution of Electrical Engineers, |c 1998. | ||
| 300 | |a 532 σ. ; |c 24 εκ. | ||
| 500 | |a Περιέχει ευρετήριο. | ||
| 650 | 4 | |a Integrated circuits |x Very large scale integration |x Testing. | |
| 852 | |a INST |b UNIPILB |c MAIN |e 20040709 |h 621.395 19 HU |p 00133693 |q 00133693 |t LOAN |y 0 |4 1 | ||
| 856 | 4 | |d /webopac/covers/01/17544_0852969015.jpg | |