Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /

Κύριος συγγραφέας: Crouch, Alfred L.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα: English
Στοιχεία έκδοσης: Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall PTR, 1999
Ταξινομικός αριθμός: 621.3815 CR
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
LEADER 00932nam a22002291a 4500
001 1/19605
008 021010s1999 njua b 001 0 eng d
020 |a 0130848271 
035 |l 20175 
040 |a DLC  |b GR-PeUP 
082 0 0 |a 621.3815 CR 
100 1 |a Crouch, Alfred L. 
245 1 0 |a Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /  |c Alfred L. Crouch. 
260 |a Upper Saddle River, NJ :  |b Prentice Hall PTR,  |c 1999 
300 |a xxvii, 349 p. :  |b ill. ;  |c 25 cm. +  |e 1 computer laser optical disc (4 3/4 in.) 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
650 4 |a Digital integrated circuits  |x Design and construction. 
650 4 |a Electronic circuit design. 
650 4 |a Automatic checkout equipment. 
650 4 |a Embedded computer systems  |x Design and construction. 
852 |a INST  |b UNIPILB  |c MAIN  |e 20040709  |h 621.3815 CR  |p 00140304  |q 00140304  |t LOAN  |y 0  |4 1 
856 4 |d /webopac/covers/01/20175_0130848271.jpg