Accelerated testing : statistical models, test plans and data analyses /

Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne, 1936-
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα: English
Στοιχεία έκδοσης: New York : John Wiley, c1990.
Σειρά: Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section.
Ταξινομικός αριθμός: 519.5 NE
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
LEADER 01086nam a22002411 4500
001 1/20065
008 030630s1990 nyua b 1 eng d
020 |a 0471522775 
035 |l 20650 
040 |a DLC  |b GR-PeUP 
082 0 0 |a 519.5 NE 
100 1 |a Nelson, Wayne,  |d 1936- 
245 1 0 |a Accelerated testing :  |b statistical models, test plans and data analyses /  |c Wayne Nelson. 
260 |a New York :  |b John Wiley,  |c c1990. 
300 |a xiv, 601 σ. :  |b εικ. ;  |c 25 εκ. 
490 1 |a Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section ; 
500 |a Περιέχει βιβλιογραφία και ευρετήριο. 
650 4 |a Failure time data analysis. 
650 4 |a Reliability (Engineering)  |x Statistical methods. 
650 4 |a Accelerated life testing  |x Statistical methods. 
830 |a Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section. 
852 |a INST  |b UNIPILB  |c MAIN  |e 20040709  |h 519.5 NE  |p 00141622  |q 00141622  |t LOAN  |y 0  |4 1 
856 4 |d /webopac/covers/01/20650_0471522775.jpg