SOC (System-on-a-Chip) testing for plug and play test automation /
Στοιχεία έκδοσης: (2002)
- Εμφάνιση παραπομπής
- Αποστολή με email
- Αποθήκευση
- Στα αγαπημένα
- Σελιδοδείκτης
- Προσθήκη στο καλάθι Αφαίρεση από το καλάθι
Testing of digital systems /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Jha, Niraj K. |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Gupta, S. 1962- |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Στοιχεία έκδοσης: |
Cambridge :
Cambridge University Press,
2003
|
Ταξινομικός αριθμός: |
621.381548 JHA |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: |
http://www.loc.gov/catdir/samples/cam041/2003277476.html http://www.loc.gov/catdir/description/cam041/2003277476.html http://www.loc.gov/catdir/toc/cam041/2003277476.html |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
SOC (System-on-a-Chip) testing for plug and play test automation /
Στοιχεία έκδοσης: (2002) -
Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999) -
Testability concepts for digital ICs : The Makro Test Approach /
από: Beenker, F.P.M.
Στοιχεία έκδοσης: (1995) -
Digital logic testing and simulation /
από: Miczo, Alexander.
Στοιχεία έκδοσης: (2003) -
Design for AT speed test diagnosis and measurment/
Στοιχεία έκδοσης: (2000)