Εξώφυλλο

From contamination to defects, faults and yield loss : Simulation and applications /

Κύριος συγγραφέας: Khare, Jitendra B.
Άλλοι συγγραφείς: Wojciech, Maly.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα: English
Στοιχεία έκδοσης: Boston : Kluwer, 1996
Ταξινομικός αριθμός: 621.3815 KHA
Θέματα:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Defects.
Integrated circuits > Very large scale integration > Computer simulation.
Computer > aided design.
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
LEADER 00992nam a2200241 4500
001 1/23233
008 040519t1996 xx i 001 0 eng
020 |a 0792397142 
035 |l 24770 
040 |a DLC  |b GR-PeUP 
082 0 0 |a 621.3815 KHA 
100 1 |a Khare, Jitendra B. 
245 1 0 |a From contamination to defects, faults and yield loss :  |b Simulation and applications /  |c by Jitendra B. Khare, Wojciech Maly 
260 |a Boston :  |b Kluwer,  |c 1996 
300 |a 150 σ. :  |b πίνακες ;  |c 24 εκ. 
500 |a Περιέχει ευρετήριο 
650 4 |a Integrated circuits  |x Very large scale integration  |x Testing. 
650 4 |a Integrated circuits  |x Very large scale integration  |x Defects. 
650 4 |a Integrated circuits  |x Very large scale integration  |x Computer simulation. 
650 4 |a Computer  |x aided design. 
700 1 |a Wojciech, Maly. 
852 |a INST  |b UNIPILB  |c MAIN  |e 20040913  |h 621.3815 KHA  |p 00143823  |q 00143823  |t LOAN  |y 0  |4 1 
856 4 |d /webopac/covers/02/24770_0792397142.jpg 

Παρόμοια τεκμήρια