On-line testing for VLSI/

Άλλοι συγγραφείς: Nicolaidis, Michael., Zorian, Yervant., Pradhan, Dhiraj K.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα: English
Στοιχεία έκδοσης: Boston: Kluwer Academic, 1998
Ταξινομικός αριθμός: 621.381548 ONL
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
LEADER 00829nam a22002415 4500
001 1/23243
008 040524s1998 us a 101 0 eng
020 |a 0792381327 
035 |l 24780 
040 |a DLC  |b GR-PeUP 
082 0 0 |a 621.381548 ONL 
245 0 0 |a On-line testing for VLSI/  |c ed. by Michael Nikolaidis, Yervan Zorian, Dhiraj K. Pradan 
260 |a Boston:  |b Kluwer Academic,  |c 1998 
300 |a 159 p.:  |b ill.;  |c 27 cm. 
500 |a Includes index 
650 4 |a Electronic circuits  |x Testing  |x Data processing. 
650 4 |a Online data processing. 
650 4 |a Electronic circuit design. 
700 1 |a Nicolaidis, Michael. 
700 1 |a Zorian, Yervant. 
700 1 |a Pradhan, Dhiraj K. 
852 |a INST  |b UNIPILB  |c MAIN  |e 20040910  |h 621.381548 ONL  |p 00143820  |q 00143820  |t LOAN  |y 0  |4 1 
856 4 |d /webopac/covers/02/24780_0792381327.jpg