Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999)
- Εμφάνιση παραπομπής
- Αποστολή με email
- Αποθήκευση
- Στα αγαπημένα
- Σελιδοδείκτης
- Προσθήκη στο καλάθι Αφαίρεση από το καλάθι
Embedded Processor-Based Self-Test /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Γκιζόπουλος, Δημήτρης. |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Πασχάλης, Αντώνης., Zorian, Yervant. |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Στοιχεία έκδοσης: |
Boston:
Kluwer,
2004
|
Ταξινομικός αριθμός: |
621.381548 GIZ |
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999) -
System-on-a-chip : Design and test /
από: Rajsuman, Rochit.
Στοιχεία έκδοσης: (2000) -
Customizable embedded processors : design technologies and applications /
Στοιχεία έκδοσης: (2007) -
Processor description languages applications and methodologies /
Στοιχεία έκδοσης: (2008) -
Embedded DSP processor design application specific instruction set processors /
από: Liu, Dake, 1957-
Στοιχεία έκδοσης: (2008)