A designer`s guide to built in self test/
από: Stroud, Charles E.
Στοιχεία έκδοσης: (2002)
- Εμφάνιση παραπομπής
- Αποστολή με email
- Αποθήκευση
- Στα αγαπημένα
- Σελιδοδείκτης
- Προσθήκη στο καλάθι Αφαίρεση από το καλάθι
Advances in electronic testing : challenges and methodologies /
Αποθηκεύτηκε σε:
Άλλοι συγγραφείς: | Γκιζόπουλος, Δημήτρης. |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Στοιχεία έκδοσης: |
Dordrecht :
Springer,
2006
|
Ταξινομικός αριθμός: |
621.381548 ADV |
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
A designer`s guide to built in self test/
από: Stroud, Charles E.
Στοιχεία έκδοσης: (2002) -
Electronic devices and circuit theory /
από: Boylestad, Robert L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999) -
Design for AT speed test diagnosis and measurment/
Στοιχεία έκδοσης: (2000) -
Research perspectives and case studies in system test and diagnosis /
από: Sheppard, John W., 1961-
Στοιχεία έκδοσης: (1998) -
Amazon Kindle paperwhite = ηλεκτρονική συσκευή ανάγνωσης [τεχνολογικός εξοπλισμός] /
Στοιχεία έκδοσης: (2018)