Digital logic testing and simulation /
Κύριος συγγραφέας: | Miczo, Alexander. |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Στοιχεία έκδοσης: |
Hoboken, NJ :
Wiley-Interscience,
2003
|
Έκδοση: | 2nd ed. |
Ταξινομικός αριθμός: |
621.3815'48 MIC |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: |
http://www.loc.gov/catdir/toc/wiley032/2003041100.html |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
LEADER | 00854nam a2200217 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 1/31346 | ||
008 | 061103s2003 njua b i 001 0 eng | ||
020 | |a 0471439959 | ||
035 | |l 33650 | ||
040 | |a DLC |b GR-PeUP | ||
082 | 0 | 0 | |a 621.3815'48 MIC |
100 | 1 | |a Miczo, Alexander. | |
245 | 1 | 0 | |a Digital logic testing and simulation / |c Alexander Miczo |
250 | |a 2nd ed. | ||
260 | |a Hoboken, NJ : |b Wiley-Interscience, |c 2003 | ||
300 | |a xxii, 668 σ. : |b εικ. ; |c 25 εκ. | ||
504 | |a Περιέχει βιβλιογραφία και ευρετήριο | ||
650 | 4 | |a Digital electronics |x Testing. | |
852 | |a INST |b UNIPILB |c MAIN |e 20061103 |h 621.3815'48 MIC |p 00151277 |q 00151277 |t LOAN |y 0 |4 1 | ||
856 | 4 | 1 | |3 Πίνακας περιεχομένων : |u http://www.loc.gov/catdir/toc/wiley032/2003041100.html |
856 | 4 | |d /webopac/covers/02/33650_0471439959.jpg |