Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999)
- Εμφάνιση παραπομπής
- Αποστολή με email
- Αποθήκευση
- Στα αγαπημένα
- Σελιδοδείκτης
- Προσθήκη στο καλάθι Αφαίρεση από το καλάθι
The boundary-scan handbook /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Parker, Kenneth P. |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Στοιχεία έκδοσης: |
Norwell, Mass. :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
Έκδοση: | 3rd ed. |
Ταξινομικός αριθμός: |
621.3815΄31΄0218 PAR |
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999) -
Fundamentals of digital logic and microcomputer design /
από: Rafiquazzaman, Mohamed.
Στοιχεία έκδοσης: (1999) -
Testing of digital systems /
από: Jha, Niraj K.
Στοιχεία έκδοσης: (2003) -
Embedded core design with FPGAs /
από: Navabi, Zainalabedin.
Στοιχεία έκδοσης: (2007) -
Asynchronous circuit design /
από: Myers, Chris J., 1969-
Στοιχεία έκδοσης: (2001)