Testing static random access memories : defects, fault models and test patterns /
| Κύριος συγγραφέας: | Hamdioui, Said. |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Στοιχεία έκδοσης: |
Boston :
Kluwer Academic Pub.,
2004
|
| Σειρά: |
Frontiers in electronic testing.
|
| Ταξινομικός αριθμός: |
004.53 HAM |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| LEADER | 00904nam a2200241 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1/23258 | ||
| 008 | 040917s2004 enk b 001 0 eng d | ||
| 020 | |a 1402077521 | ||
| 035 | |l 24795 | ||
| 040 | |a DLC |b GR-PeUP | ||
| 082 | 0 | 0 | |a 004.53 HAM |
| 100 | 1 | |a Hamdioui, Said. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Testing static random access memories : |b defects, fault models and test patterns / |c by Said Hamdioui |
| 260 | |a Boston : |b Kluwer Academic Pub., |c 2004 | ||
| 300 | |a 221 σ. : |b πίν. ; |c 24 εκ. | ||
| 490 | 1 | |a Frontiers in electronic testing ; | |
| 500 | |a Περιέχει ευρετήριο | ||
| 504 | |a Περιέχει βιβλιογραφία | ||
| 650 | 4 | |a Random access memory |x Testing. | |
| 650 | 4 | |a RAM (Computer memory) | |
| 830 | |a Frontiers in electronic testing. | ||
| 852 | |a INST |b UNIPILB |c MAIN |e 20040917 |h 004.53 HAM |p 00143848 |q 00143848 |t LOAN |y 0 |4 1 | ||
| 856 | 4 | |d /webopac/covers/02/24795_1402077521.jpg | |