System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from consumers. As a result, semic...
| Άλλοι συγγραφείς: | Wang, Laung-Terng., Stroud, Charles E., Touba, Nur A. |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Στοιχεία έκδοσης: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| Σειρά: |
Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: |
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!