Testability concepts for digital ICs : The Makro Test Approach /
| Κύριος συγγραφέας: | Beenker, F.P.M. |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Bennets, R.G., Thijssen, A. P. |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Στοιχεία έκδοσης: |
Dordrecht :
Kluwer,
1995
|
| Σειρά: |
Frontiers in electronic testing.
|
| Ταξινομικός αριθμός: |
621.3815'48 ΒΕΕ |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| LEADER | 00990nam a2200253 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1/23232 | ||
| 008 | 040519t1995 enk bi 001 0 eng | ||
| 020 | |a 0792396588 | ||
| 035 | |l 24769 | ||
| 040 | |a DLC |b GR-PeUP | ||
| 082 | 0 | 0 | |a 621.3815'48 ΒΕΕ |
| 100 | 1 | |a Beenker, F.P.M. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Testability concepts for digital ICs : |b The Makro Test Approach / |c by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts and A.P. Thijssen |
| 260 | |a Dordrecht : |b Kluwer, |c 1995 | ||
| 300 | |a ix, 212 σ. : |b πίνακες ; |c 22 εκ. | ||
| 490 | 1 | |a Frontiers in electronic testing ; | |
| 504 | |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφία και ευρετήριο | ||
| 650 | 4 | |a Digital integrated circuits |x Testing. | |
| 650 | 4 | |a Automatic test equipment. | |
| 700 | 1 | |a Bennets, R.G. | |
| 700 | 1 | |a Thijssen, A. P. | |
| 830 | |a Frontiers in electronic testing. | ||
| 852 | |a INST |b UNIPILB |c MAIN |e 20040917 |h 621.3815'48 ΒΕΕ |p 00143846 |q 00143846 |t LOAN |y 0 |4 1 | ||
| 856 | 4 | |d /webopac/covers/02/24769_0792396588.jpg | |