Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems /
από: Crouch, Alfred L.
Στοιχεία έκδοσης: (1999)
Testability concepts for digital ICs : The Makro Test Approach /
| Κύριος συγγραφέας: | Beenker, F.P.M. |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Bennets, R.G., Thijssen, A. P. |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Στοιχεία έκδοσης: |
Dordrecht :
Kluwer,
1995
|
| Σειρά: |
Frontiers in electronic testing.
|
| Ταξινομικός αριθμός: |
621.3815'48 ΒΕΕ |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|